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Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado

Certificado
CHINA Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd. Certificações
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Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado

Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado
Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado

Imagem Grande :  Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado

Detalhes do produto:
Lugar de origem: Suzhou China
Marca: GaNova
Certificação: UKAS/ISO9001:2015
Número do modelo: JDCD01-001-005
Condições de Pagamento e Envio:
Detalhes da embalagem: Embalagem a vácuo em um ambiente de sala limpa classe 10000, em cassetes de 6 peças ou recipientes d
Tempo de entrega: 3-4 dias da semana
Termos de pagamento: T/T
Habilidade da fonte: 10000pcs/Month

Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado

descrição
Nome do produto: Única carcaça de cristal de GaN Dimensões: ² de 5 x de 10mm
Espessura: 350 ±25µm Orientação: Um plano (11-20) fora do ângulo para o plano da M-linha central 0 ±0.5° A (11-20) fora do ângulo par
TTV: ≤ 10µm Curva: - ≤ 10µm da CURVA do ≤ de 10µm
Destacar:

N Tipo N nitreto de gálio

,

GaN Substrato Epitaxial Un Doped

,

A Face Substrato de nitreto de gálio gan

5*10,5 mm2 A-face Substrato de cristal único de GaN não dopado tipo n Resistividade < 0,05 Ω·cm Dispositivo de alimentação/wafer de laser

 


Visão geral

A densidade de potência é bastante aprimorada em dispositivos de nitreto de gálio em comparação com os de silício porque o GaN tem a capacidade de sustentar frequências de comutação muito mais altas.Ele também tem uma maior capacidade de suportar temperaturas elevadas.

 

A fás Free-standeung GaN Substrates
Item GaN-FS-AUS GaN-FS-ANS GaN-FS-A-SI-S

Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Observações:

Um ângulo de arco circular (R < 2 mm) é usado para distinguir a superfície frontal e posterior.

Dimensões 5 x 10 mm2
Grossura 350 ±25 µm
Orientação

Um plano (11-20) fora do ângulo em direção ao eixo M 0 ±0,5°

Um plano (11-20) fora do ângulo em direção ao eixo C - 1 ± 0,2°

Tipo de Condução tipo N tipo N Semi-isolante
Resistividade (300K) < 0,1 Ω·cm < 0,05 Ω·cm > 106Ω·cm
TTV ≤ 10 µm
ARCO - 10 µm ≤ ARCO ≤ 10 µm
Rugosidade da Superfície Frontal

< 0,2 nm (polido);

ou < 0,3 nm (polido e tratamento de superfície para epitaxia)

Rugosidade da Superfície Traseira

0,5 ~1,5 μm

opção: 1~3 nm (solo fino);< 0,2 nm (polido)

Densidade de Deslocamento De 1 x 105para 3 x 106cm-2
Densidade de Defeito Macro 0 cm-2
Área Útil > 90% (exclusão de borda)
Pacote Embalado em um ambiente de sala limpa classe 100, em contêiner de 6 PCS, sob uma atmosfera de nitrogênio

 

 

Apêndice: O diagrama do ângulo de corte incorreto

Substrato monocristal de GaN de gálio, tipo N, de face livre, não dopado 1

 

Se δ1= 0 ±0,5°, então o plano A (11-20) fora do ângulo em direção ao eixo M é 0 ±0,5°.

Se δ2= - 1 ±0,2°, então o plano A (11-20) fora do ângulo em direção ao eixo C é - 1 ±0,2°.

 

Sobre nós

Nós nos especializamos no processamento de uma variedade de materiais em wafers, substratos e peças personalizadas de vidro óptico. Componentes amplamente utilizados em eletrônica, óptica, optoeletrônica e muitos outros campos.Também trabalhamos em estreita colaboração com muitas universidades nacionais e estrangeiras, instituições de pesquisa e empresas, fornecendo produtos e serviços personalizados para seus projetos de P&D.É nossa visão manter um bom relacionamento de cooperação com todos os nossos clientes por nossa boa reputação.

 

 

Perguntas frequentes

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Contacto
Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

Pessoa de Contato: Xiwen Bai (Ciel)

Telefone: +8613372109561

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