Portuguese
English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
Türkçe
Polski
Pedir um orçamento
|
Procurar
Para casa
Produtos
Vídeos
Sobre nós
Visita à fábrica
Controle de qualidade
Contacte-nos
Notícias
Casos
Sorry! This product is no longer available.
Let's see if there are any related products that interest you
Produtos recomendados
SP-Face 11-12 Não dopado Tipo N GaN de stand-alone Substrato de cristal único Resistividade 0,05 Ω·cm Densidade de defeito macro 0cm−2
JDCD10-001-002 Substratos dopados por GaAs (100) Si de 2 polegadas
JDCD10-001-003 2 polegadas GaAs ((100) Substratos dopados por Zn
JDCD10-001-004 Substratos dopados por GaAs (111) de 2 polegadas
JDCD10-001-005 2 polegadas GaAs ((111) Substratos dopados por Zn
JDCD04-001-007 10x10mm2(010)Sn-Dopado Livre Ga2O3 Substrato de Cristal Único Grau de Produto Polimento Simples
JDCD04-001-003 10x10mm2 100 ((Off 6°) Fe dopado em pé livre Ga2O3 Substrato de cristal único Grau de produto Polido único
JDCD04-001-002 10x10mm2 (- 201) Sn-lubrificou o único Crystal Substrate Product Grade único polonês autônomo de Ga2O3
350 ± 25 μm Espessura Substrato monocristalino GaN independente não dopado de tipo N, com TTV ≤ 10 μm e Resistividade 0,1 Ω·cm
5*10mm2 SP-Face não dopado de tipo N GaN monokristalino 20-21 / 20-2-1 10mm2 Resistividade 0,05 Ω·cm
JDCD06-001-005 Wafer de silício de 6 polegadas Dispositivos MEMS Circuitos integrados Substratos dedicados para dispositivos discretos
JDCD06-001-004 Wafer de silício de 5 polegadas Dispositivos MEMS Circuitos integrados Substratos dedicados para dispositivos discretos
10*10,5mm2 C-Face Fe-Doped SI-Type Free-Standing GaN Single Crystal Substrate Macro Defecto Densidade 0cm−2 TTV ≤ 10 μm Resistividade 106 Ω·Cm Dispositivos RF Wafer
JDCD06-001-006 8-Inch Silicon Wafer Dispositivos MEMS Circuitos integrados Substratos dedicados para dispositivos discretos
JDCD06-001-007 Wafer de silício de 12 polegadas Dispositivos MEMS Circuitos integrados Substratos dedicados para dispositivos discretos
Dispositivo de potência 5x10 mm2 Substrato de cristal único GaN de tipo N não dopado, com resistividade 0,1 Ω·cm e BOW dentro de 10 μm
5x10mm2 SP-Face 10-11 Substrato de cristal único GaN de tipo N sem dopagem com TTV ≤ 10μm Resistividade 0,05 Ω·cm
5*10mm2 SP-Face 10-11 Não dopado GaN de tipo N independente Substrato de cristal único 0,1 Ω·cm Resistividade para dispositivo de potência
Densidade de defeito macro 0cm−2 Substrato de cristal único de GaN independente do tipo SI não dopado para dispositivos RF 5*10mm2 M-Face
TTV ≤ 10μm A-Face não dopado de tipo N GaN monokristalino de sustrato independente Resistividade 0,1 Ω·cm Dispositivo de potência/Laser W